864 次TOF-SIMS飛行時間二次離子質譜儀離子源的選擇 2024-8-29
TOF-SIMS(TimeofFlight Secondary Ion Mass Spectrometry)飛行時間二次離子質譜儀的基本組件包括一次離子束,和用于樣品深度剖析的離子束。主離子束被脈沖化以供飛行時間質譜儀進行分析使用。
803 次使用低能離子精修制備高質量的鋰離子導體固態(tài)電解質透射電鏡樣品 2024-5-29
引言使用 FIB 切削獲得超薄樣片(lamella),是一種常見的塊體材料 TEM 制樣方法。然而,鎵離子束輻照損傷所帶來的非晶層卻像一片難以驅散的迷霧,阻礙著人們獲得更高質量的 TEM 照片,進而也限制