徠卡直播預告:掌握 Aivia 機器學習,輕松精準分析各類圖像
瀏覽次數(shù):921 發(fā)布日期:2022-3-21
來源:徠卡顯微鏡
內(nèi)容簡介:
研究者辛苦得到了實驗樣本,但是拍出的圖片可能有背景太高、人工分析繁瑣等的問題。這些不太理想的2D到5D(xy→xyztl)的data,可以使用Aivia機器學習功能進行分析——pixel classifier 和object classifier 工具可以迅速地自動識別感興趣結(jié)構,并進行計數(shù)、位置關系、信號強度等分析,幫助研究者快速得到可靠的結(jié)果,從數(shù)據(jù)中發(fā)現(xiàn)隱藏的細節(jié)。
這次培訓我們選取了三個有代表性的圖片,來向大家展示Aivia的強大數(shù)據(jù)分析能力。
1、高背景厚樣本
2、結(jié)構不規(guī)則的熒光圖像
3、依賴于手動分析的電鏡圖片
數(shù)據(jù)來源:廈門大學生物醫(yī)學儀器共享平臺,電鏡室姚路明博士、吳彩明博士
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時間:2022年4月19日 14:30-15:30
主講

包沈源博士
畢業(yè)于華東理工大學先進材料與制備技術專業(yè)。博士后工作于華東理工大學物理化學專業(yè)。現(xiàn)任職于徠卡顯微系統(tǒng)材料電鏡制樣工程師,長期從事材料制備和電鏡圖像分析工作,從理論基礎到分析表征都具有豐富經(jīng)驗。
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